księgarnia informatyczna

Książka informatyczna wydawnictw: BTC Edition Exit Helion Help Microsoft Press Mikom Nakom PJWSTK Read Me Robomatic Skalmierski Tortech Translator WKŁ WNT WSISIZ



Pomiary geometryczne powierzchni Zarysy kształtu, falistość i chropowatość         WNT          36.75zł   29.77zł Księgarnia informatyczna komputeks.pl

Autor: Stanisław Adamczak

ISBN: 978-83-204-3526-9

Ilość stron: 300

Data wydania: 04/2009

Twarda oprawa

Struktura geometryczna powierzchni elementów maszyn jest z jednej strony wynikiem procesu technologicznego, a z drugiej – czynnikiem warunkującym właściwą eksploatację gotowego wyrobu. Dlatego tak istotne znaczenie we współczesnej technice ma jej pomiar i ocena.

W podręczniku w przystępny, a zarazem wyczerpujący sposób omówiono:
• sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni,
• nowoczesne metody pomiarów i oceny zarysów okrągłości ustalonych dla całej analizowanej powierzchni, zarysów walcowości, prostoliniowości i płaskości oraz niedomkniętych zarysów kształtu,
• sposoby oceny chropowatości i falistości powierzchni,
• kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu,
• przyrządy pomiarowe i ich statystyczne badania porównawcze, przy czym duży nacisk położono na zagadnienia związane z komputeryzacją tych przyrządów.

Na rynku są dostępne publikacje zbliżone tematycznie, ale ich autorzy skupiają się głównie na chropowatości i falistości powierzchni. W tej książce natomiast zaprezentowano podejście kompleksowe do zagadnienia pomiaru całej struktury geometrycznej powierzchni.

Książka skierowana jest do studentów wydziałów mechanicznych kierunków kształcenia : mechanika i budowa maszyn, automatyka i robotyka, inżynieria materiałowa i transport.

Zainteresuje zapewne pracowników naukowo-badawczych oraz nauczycieli akademickich prowadzących badania w dyscyplinach związanych z ww. kierunkami. Będzie też przydatna dla konstruktorów i technologów, a zwłaszcza pracowników służb kontrolno-pomiarowych zakładów pracy wytwarzających maszyny i urządzenia mechaniczne.

Rozdziały:

1. Informacje wprowadzające
1.1. Wprowadzenie 
1.2. Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni       
1.3. Tolerancje geometryczne

2. Zarysy okrągłości ustalone dla całej analizowanej powierzchni
2.1. Podstawowa terminologia i definicje odnoszące się do ujęcia tradycyjnego 
2.2. Zarysy okrągłości i falistości powierzchni odnoszące się do ujęcia nowego. Podstawowe terminy i definicje
2.3. Metody oceny zarysu okrągłości
2.4. Metody pomiaru zmian promienia
2.5. Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości

3. Zarysy walcowości
3.1. Ocena zarysów walcowości - podstawowe definicje i strategie pomiarowe  
3.2. Parametry oceny zarysów walcowości
3.3. Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości
3.4. Strategie pomiarowe
3.5. Ocena zarysów walcowości - zasady prowadzenia pomiarów
3.6. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych
3.7. Program komputerowy CYFORM

4. Zarysy prostoliniowości
4.1. Podstawowe określenia i definicje dotyczące zarysów prostoliniowości części maszyn
4.2. Parametry oceny zarysów prostoliniowości     
4.3. Filtrowanie zarysów prostoliniowości  
4.4. Technika pomiarów zarysów prostoliniowości
4.5. Program komputerowy LIFORM        

5. Zarysy płaskości
5.1. Podstawowe terminy i definicje           
5.2. Parametry oceny zarysów płaskości     
5.3. Zasady prowadzenia pomiarów
5.4. Strategie pomiarowe     

6. Niedomknięte zarysy kształtu

7. Ocena chropowatości i falistości powierzchni
7.1. Informacje podstawowe           
7.2. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych         
7.3. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów       
7.4. Wzorce kontrolne i użytkowe
7,5, Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni     
7.6. Pomiary przestrzenne powierzchni       

8. Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu         
8.1. Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych
8.2. Program komputerowy PROFORM    
8.3. Kompleksowa ocena zarysu     

9. Statystyczne badania porównawcze przyrządów      
9.1. Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów 
9.2. Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru podniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości
9.3. Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego    

10. Przyrządy pomiarowe
10.1. Informacje podstawowe dotyczące metrologii ogólnej           
10.2. Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych  
10.3. Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości
10.4. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe)   
10.5. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości
10.6. Współrzędnościowe pomiary zarysów okrągłości i walcowości
10.7. Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni


Pomiary geometryczne powierzchni Zarysy kształtu, falistość i chropowatość

adobe algorytmy apache asp autocad asembler bsd c++ c# delphi dtp excel flash html java javascript linux matlab mysql office php samba voip uml unix visual studio windows word

Księgarnia Informatyczna  zaprasza.