Autor: Praca zbiorowa
ISBN: 978-83-204-3353-1
Ilość stron: 576
Data wydania: 2007
Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii.
Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT).
Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.
Rozdziały:
Rozdział 1. Wprowadzenie
1.1. Pomiar - nieodłączny element życia
1.2. Metrologia a miernictwo
1.3. Techniki pomiarowe wieku XX i początku XXI
1.4. Geneza monografii
1.5. Wybór tematyki monografii
Rozdział 2. Metrologia w procesie poznania
2.1. Wprowadzenie
2.2. Realia postrzeganej rzeczywistości
2.3. Opis cech materii
2.4. Zasada przyczynowości
2.5. Determinizm i indeterminizm
2.6. Elementy pojęciowe mechaniki kwantowej
2.7. Przyczynowość a indeterminizm w metrologii
2.8. Modelowanie i symulacja w procesie poznania
2.9. Proces poznawczy w metrologii
2.10.Zakończenie
Rozdział 3. Dokładność oceny niepewności i dokładność systemów pomiarowych
3.1. Dokładność oceny niepewności rozszerzonej
3.2. Dokładność systemów pomiarowych
Rozdział 4. Badania empiryczne - metodyka i wspomaganie komputerowe
4.1. Pojęcie i rola badań empirycznych
4.2. Elementy stosowanej teorii eksperymentu
4.3. Komputerowe wspomaganie planowania i analizy eksperymentu
4.4. Inteligentne systemy planowania eksperymentu
Rozdział 5. Sztuczne sieci neuronowe w metrologii
5.1. Wprowadzenie
5.2. Sieci jednokierunkowe terenowe z nauczycielem
5.3. Sieci samoorganizujące się
5.4. Sieci neuronowe rozmyte
5.5. Problemy implementacji VLSI sieci neuronowych
5.6. Przykłady zastosowań sieci neuronowych w metrologii
5.7. Wnioski końcowe
Rozdział 6. Wybrane problemy metrologii optoelektronicznej (polowa interferometria laserowa)
6.1. Wstęp
6.2. Zautomatyzowane metody analizy interferogramów
6.3. Systemy interferometryczne
6.4. Zintegrowane systemy pomiarowe
6.5. Koncepcja eksperymentalno-numerycznych metod hybrydowych
6.6. Podsumowanie
Rozdział 7. Systemy pomiarowe
7.1. Wstęp
7.2. Mikrosystemy
7.3. Rozproszone systemy pomiarowe
7.4. Internet w metrologii
7.5. Prognoza rozwoju
adobe algorytmy apache asp autocad asembler bsd c++ c# delphi dtp excel flash html java javascript linux matlab mysql office php samba voip uml unix visual studio windows word
Księgarnia Informatyczna zaprasza.